보도자료

제목	유해물질 시험분석방법 국제표준으로 확정된다
담당자	admin	담당부서	디지털전자표준과	등록일	2008-10-13	조회수	3916
첨부파일	1010_(13일조간)_디지털전자표준과,_유해물질_시험분석방법_국제표준_확정.hwp
내용	유해물질 시험분석방법 국제표준으로 확정된다 - 납, 수은, 카드뮴 등 6대 유해물질 대상, 제주도 국제회의에서-   ㅁ 전기전자제품 내의 유해물질 시험분석방법이 국제표준으로 제정된다. 그간 시험기관마다 분석방법이 상이하여 논란과 혼란이 거듭되던 납, 수은, 카드뮴 등 6대 환경유해물질의 시험분석방법에 대한 혼선이 해결될 전망이다. ㅁ 지식경제부 기술표준원(원장 남인석)은 전기전자제품의 환경 분야 국제표준 최종 확정을 위하여 국제전기기술위원회(IEC)의 ‘전기전자제품 및 시스템 환경표준화 기술위원회(IEC TC 111)’ 회의를 12일부터 17일까지 제주도에서 개최한다고 밝혔다     ※ IEC TC111 회의 개요 : 붙임1 참조  ㅇ 기술표준원은 유럽에서 전기전자제품의 유해물질 사용제한지침(RoHS)이 2006년 7월부터 시행되는 등 전 세계적으로 전기전자제품에 대한 환경규제가 확산되고 있는 추세이며 동 규제가 새로운 무역장벽 으로 나타나고 있는 실정이라고 하며,  ㅇ 우리나라의 주력 수출품목인 전기전자제품의 대외 이미지 제고와 환경규제의 능동적 대응을 통한 전기전자산업의 국제경쟁력 향상을 위하여 이번에 국내에서 국제회의를 개최한다고 했다. * 붙임 : 보도자료 전문