제목 | 나노소재 평가기술 분야 해외전문가 초청세미나 | ||||||
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담당자 | 신재혁 | 담당부서 | 광전재료과 | 등록일 | 2003-06-19 | 조회수 | 2572 |
첨부파일 | 싱클레어초록.doc 싱클레어경력.bmp |
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내용 |
광전재료과에서는 최근 나노기술현황 및 나노소재 특성 평가기술에 대한 미국 의 연구개발 동향을 소개하고자 Robert Sinclair박사(미국 스탠포드대학교 재료과학과 교수, 나노소재평가센터장)을 초청하여 ”Recent development in nano- characterization techniques and in-situ TEM research”라 는 주제를 중심으로 아래와 같이 세미나를 개최하오니 참석하시기 바랍니다. - 아 래 - 가. 일 시 : 2003. 6.24(화) 14:00 ∼ 나. 장 소 : 기술표준원 2동 외래교수실 다. 참석대상 : 대학교, 연구소, 기업의 나노소재 개발 및 평가분야 전문가 및 나노기술 분야에 관심이 있으신 분 등 붙임 : 1. 영문 Abstract 1부 2. 강연자 약력 담당자 : 광전재료과 신재혁 연구사 (02-509-7233) |