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공지사항
| 제목 | 마이크로빔분석 국제표준화회의 개최(2003.10.23~10.25) | ||||
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| 등록일 | 2003-10-20 | 조회수 | 2260 | ||
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기술표준원, 국내 나노분석기술의 국제화 추진 - 마이크로빔분석 국제표준화회의 개최 등 - 산업자원부 기술표준원(원장 윤교원)에서는 나노관련 기술의 국제표준 선 점을 통해 우리나라 제품의 해외시장 진출에 유리한 기반을 마련하기 위하여 국내 나노분석기술의 국제화를 추진해 나갈 계획이다. 이를 위한 일환으로 나 노 스케일의 평가분석을 담당하는 “마이크로빔분석 총회(ISO/TC 202)”를 10월 23일 부터 25일까지 3일간 제주 국제컨벤션센터에서 개최키로 하였 다. 이번 회의에서는 미국, 영국, 일본, 중국 등 11개국 60여명의 전문가가 참 석할 예정이며, 주 의제로 기존 분석장비의 측정방법 통일화, 표준물질 개발, 전세계적 사업화 동향 및 계획(Business Plan) 등에 대한 토의가 이루어질 예정이다. 또한, 회의기간 중에는 나노분석 관련 국내 및 국외 전문가들 간의 연구교 류를 위하여“제1회 마이크로빔분석 국제심포지움”을 한국전자현미경학회와 공동으로 개최한다. 이 자리에는 세계적으로 저명한 초미세구조 분석분야의 저명한 학자들과 국제마이크로빔 분석 기술위원회 의장의 초청강연도 있을 예 정이다. |
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